高效率低成本嵌入式閃存存儲器的測試方案

摘要：嵌入式閃存測試不同于傳統(tǒng)的存儲器測試,它是將內(nèi)建自測試和傳統(tǒng)存儲器測試相互結(jié)合的專業(yè)測試。在傳統(tǒng)嵌入式閃存測試方法 JTAG 接口的基礎(chǔ)上,通過對測試接口和測試方法的不斷創(chuàng)新和優(yōu)化,從五個測試信號、四個測試信號、三個測試信號、二個測試信號,最終達到一個測試信號實現(xiàn)整個閃存所有功能可測試的終極測試方案。不斷創(chuàng)新和優(yōu)化的測試方法,實現(xiàn)了在低成本和測試硬件資源有限的測試機上持續(xù)提高嵌入式閃存測試的同測數(shù),從而極大地提升了嵌入式閃存的測試效率、縮短測試的生產(chǎn)周期和降低閃存測試的成本。