基于加速退化數(shù)據(jù)的某導(dǎo)電膜電阻貯存壽命預(yù)測(cè)方法

摘要：提出了一種基于加速退化數(shù)據(jù)的某導(dǎo)電膜電阻貯存壽命預(yù)測(cè)方法。首先對(duì)該導(dǎo)電膜電阻采用溫度應(yīng)力進(jìn)行加速性能退化試驗(yàn),試驗(yàn)中將該導(dǎo)電膜電阻的總阻值作為反映其性能的指標(biāo)判據(jù),在不同加速應(yīng)力水平下得到在線測(cè)試和離線測(cè)試獲取的加速性能退化數(shù)據(jù);然后通過(guò)引入溫度因數(shù)去除在線測(cè)試數(shù)據(jù)的溫漂效應(yīng),再融合在線數(shù)據(jù)和離線數(shù)據(jù)進(jìn)行退化軌跡模型參數(shù)辨識(shí),獲得該導(dǎo)電膜電阻在各加速應(yīng)力水平下的偽壽命;然后結(jié)合經(jīng)過(guò)修正的三參數(shù)溫度加速模型評(píng)估得到該導(dǎo)電膜電阻在正常應(yīng)力下的貯存壽命。最終以某導(dǎo)電膜電阻為例驗(yàn)證了所提方法的適用性和有效性。