一種雙優(yōu)選的半監(jiān)督回歸算法

摘要：針對(duì)一些工業(yè)過(guò)程中存在的有標(biāo)簽樣本少,而傳統(tǒng)的半監(jiān)督學(xué)習(xí)無(wú)法保證對(duì)無(wú)標(biāo)簽樣本準(zhǔn)確預(yù)測(cè)的問(wèn)題,提出一種雙優(yōu)選的半監(jiān)督回歸算法。首先,確定有標(biāo)簽樣本密集區(qū)中心,并計(jì)算無(wú)標(biāo)簽樣本與該中心的相似度,實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)標(biāo)簽樣本的優(yōu)選,同時(shí)根據(jù)有標(biāo)簽樣本間相似度優(yōu)選有標(biāo)簽樣本;然后,利用高斯過(guò)程回歸方法對(duì)選出的有標(biāo)簽樣本建立輔學(xué)習(xí)器,以對(duì)優(yōu)選出的無(wú)標(biāo)簽樣本預(yù)測(cè)標(biāo)簽;最后,利用這些偽標(biāo)簽樣本提升主學(xué)習(xí)器的預(yù)測(cè)效果。通過(guò)數(shù)值例子以及實(shí)際脫丁烷塔過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)行建模仿真,證明了所提方法在有標(biāo)簽樣本較少的情況下有良好的預(yù)測(cè)性能。